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目前編輯:OpenGrid Label Slot Test (標籤卡槽測試件)

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正在載入 OpenGrid Label Slot Test (標籤卡槽測試件) CAD workspace

單獨列印壁掛收納方格的同款上抽式卡槽,以少量材料測試標籤卡間隙。每格 10 mm。

模型摘要

可調參數與限制

  • 標籤格數:1–10 支

可用匯出格式:STL。

需要 JavaScript、WebAssembly、Web Worker 與 WebGL 才能顯示互動式預覽。

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